光刻膠膜厚儀的磁感應(yīng)測(cè)量原理主要基于磁通量的變化來測(cè)定光刻膠膜的厚度。具體來說，這種測(cè)量原理利用了從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層（即光刻膠膜）而流入鐵磁基體的磁通的大小來確定覆層的厚度。在實(shí)際測(cè)量過程中，測(cè)頭靠.. 全文

透光率測(cè)試儀可以用來測(cè)量玻璃、薄膜，太陽膜、有機(jī)材料、亞克力材料、PC材料等的透光率，透光率計(jì)廣泛使用于各行各業(yè)，其操作方便、材料快速。 全文

派瑞林厚度測(cè)量?jī)x在多次測(cè)量同一物體時(shí)，其結(jié)果的一致性主要取決于測(cè)量?jī)x的精度、穩(wěn)定性以及操作過程中的規(guī)范性。首先，如果測(cè)量?jī)x的精度較高，那么在測(cè)量過程中產(chǎn)生的誤差就會(huì)相對(duì)較小，多次測(cè)量的結(jié)果就會(huì)更加接近.. 全文

光致發(fā)光熒光效率測(cè)試儀的原理主要基于熒光光譜測(cè)量。當(dāng)熒光物質(zhì)受到特定波長的激發(fā)光照射時(shí)，它會(huì)吸收光能并隨后以較低能量的熒光形式發(fā)射出來。這個(gè)過程中，產(chǎn)生的熒光能量通常比激發(fā)光的光子能量小，大約只相當(dāng)于.. 全文